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        儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學(xué)

        顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器

        將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
        1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
        2、具有圓度、曲線、周長(zhǎng)、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。
        3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。

        顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器

        儀器型號(hào) WKL-702
        測(cè)量范圍 0.1~3000(微米)
        總放大倍數(shù) 8000倍
        最大分辨率 0.1微米/像素
        重復(fù)性 誤差≤±1%
        自動(dòng)分割速度 ≤1秒
        數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) 500萬像素
        數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 電腦另配
        通信接口 USB
        操作系統(tǒng) Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可
        電源 AC220V ±10% 200W
        儀器尺寸 270mmX410mmX440mm
        儀器凈重 15kg